fA级精度采集,一网打尽芯片“偷电”
发布日期:2026-04-20浏览次数:416 次
一网打尽芯片“偷电”
手机待机掉电快?可能是芯片在“假关机”状态下漏电 — 我们用飞安级采集卡精准锁定每一纳安。
🔍 芯片静态功耗(IDDQ)测试,是低功耗设计的核心痛点。传统万用表在pA级已力不从心,面对fA级“幽灵电流”彻底失效。
我们的fA级微电流采集卡,让漏电测试从“靠猜”变成“看见”。
重新定义微电流测量
研发收尾阶段 — fA级微电流采集卡系列即将面世
✅ 实现 pA 至 fA 级别高保真、低噪声、高稳定度测量 — 让漏电无处遁形。
- 芯片静态功耗测试 — IDDQ测量,识别栅氧化层短路等缺陷
- 半导体器件漏电分析 — MOSFET栅极漏电、光电二极管暗电流
- 低功耗产品研发 — 优化电路,每一微安用在刀刃上
时域I-t曲线,多通道并行对比,精准定位功耗异常源头。
“哪怕极其微小的漏电通道,也在火眼金睛之下无所遁形。”
📢 产品正式发布后,同步开放样片申请与试用通道,敬请持续关注!
专注于工业过程控制系统及进口仪表(传感)国产替代解决方案